| 加工定制 | 否 |
|---|---|
| 测量范围 | 0 - 20000 um (取决于探头) |
| 品牌 | 德国KD |
| 型号 | LEPTOSKOP2042 |
EPTOSKOP2042涂层测厚仪简介：
LEPTOSKOP2042涂层测厚仪具有**的测量技术和简单的操作方法，是万能的涂层测厚仪。通过解锁代码，可以使仪器在现场迅速的升级。
LEPTOSKOP2042涂层测厚仪 利用磁感应法(DIN EN ISO 2178)测量铁磁基体上的非铁磁层的厚度并且利用涡流法(DIN EN ISO 2360)测量非铁磁材料上覆盖的非导电层厚。
仪器将一种把测厚值显示为模拟指针的工具和近似WINDOWS一样的文件管理系统相结合，同时提供10种可供任意选择的语言，以满足客户的各种需求。
LEPTOSKOP2042涂层测厚仪是一种经济的产品，电池寿命长，可以连续工作100小时以上。仪器记录工作时间和测量数量，因此一些重要的参数可以被保存。
彩色的橡胶皮套也是在供货范围内，可以保护仪器在工业环境中意外滑落不受损害。
LEPTOSKOP2042技术参数：
数据传输接口RS232 或 USB
电源：电池、充电电池、USB或外接电源
测量范围: 0 - 20000 um (取决于探头)
测量速度: 每秒测量2个数值
存储: **多 9999 个数值，140个文件
误差:
涂层厚度 < 100 um: 1% 读数 +/- 1 um (校准后)
涂层厚度 > 100 um: 1-3% 读数 +/- 1 um
涂层厚度 > 1000 um: 3-5% 读数 +/- 10 um
涂层厚度 > 10000 um: 5% 读数 +/- 100 um
LEPTOSKOP2042涂层测厚仪附件：
试块和膜片
探头定位装置 (适用于微型探头)
定位辅助装置 (适用于微型探头)
电脑软件 STATWIN 2002 用于数据传输和对整个目录结构的便捷管理
电脑软件 EasyExport 用于把单独的读数或全部文件传输到Windows
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KD产品主要有裂纹测深、超声波测厚、超声波探伤、涂层测厚仪、磁粉探伤、磁粉耗材、剩磁检测、全自动超声/磁粉探伤设备，广泛应用在航空航天、汽车、机械、冶金、铸造、锻造、石油、化工等行业。泰亚赛福将秉承德国KD的宗旨，为您提供品质安全、可靠的无损检测产品。
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